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    产品详情

    HemiView叶面图像分析系统

    描述:HemiView叶面图像分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。

    更新时间:2023-07-26
    产品型号:
    厂商性质:代理商
    详情介绍
    品牌DELTA-T价格区间1万-5万
    产地类别进口

    HemiView叶面图像分析系统功能和组成

    叶面积测量,自动辨别叶片损伤或病变面积,种子和根尖记数,图形转换、储存和编辑。

    使用照相分析,样品图像通过CCD 摄像机成像,然后由图像截获卡送到计算机中,图像分析软件对样品图像进行分析处理。


    组成:
    图像截获卡:PCI 接口,用来俘获影像数据供计算机处理;
    CCD 摄像机:对样品进行摄影成像;
    图像分析软件:对样品的图像进行分析处理,P133 以上,英文WIN3.1、WIN95,98 系统;

    HemiView植物图像分析系统特点:

    ·交互式图示定位工具:精准记录的图像半球纵坐标系统。补偿磁场偏差;

    ·支持图像分类:强度区分界限和干扰像素。图像按照实时更新分类;

    ·图像可多重和拆分查看:分类和色彩/灰色等比率查看,或将整幅图像拆分开浏览;

    ·图像底片:图像可转换为底片模式进行查看和分析;

    ·可给不同的天空区域定义号码:天顶角和方位角定义范围;

    ·单个树的叶面积:直接可通过HemiView输出单个树的LAI;

    ·分析局部图像:可以将图像中不需要参与分析的部分排除;

    ·地点,镜头和太阳模型的参数:用户可设定地点,镜头和太阳模式应用到任何一个图像中,方便从列表中选择;

    ·定义镜头的特点:镜头方程是当用户使用了当前镜头和老款类型提供的ΔT;

    ·输出:分析结果可输出为Excel兼容表格格式或文本格式;

    ·自定义输出参数:用户可根据不同的图像定义不同的输出参数。

     

     

    HemiView叶面图像分析系统技术指标

    1、可测量物体的最大尺寸:平板扫描:400×370 mm;传送扫描:250×290 mm;
    2、彩色CCD 摄像头,681×582 pixels;
    3、测量面积精度:≤4%;
    4、图象采集卡取样频率:实时取样,1/ 25 秒(50Hz);
    5、图象分析软件分辨率:512×512 pixels,24 bit;
    6、传送装置速率:60/100/140/190 mm/s;
    7、传送装置样品最大宽度为250mm,最大厚度为5mm;
    8、带有使卷曲叶片平展的聚丙烯片;
    9、摄像机镜头支架高度:1150 mm;

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